Ana Sayfa

Metal ve Malzeme Analizi

OES — Optik Emisyon Spektrometresi

Kıvılcım ateşleme ile metal eriyiklerinde gerçek zamanlı elementel bileşim analizi. Demir çelik, alüminyum, bakır ve diğer alaşımlarda ppm düzeyinde hassasiyet.

Karbon (C) Analizi Kükürt (S) & Azot (N) 10+ Metal Matrisi ppb Hassasiyeti

Kategoriye Git

Metal ve Malzeme Analizi

XRF — X-Işını Floresans Spektrometresi

Tahribatsız elementel analiz, cevher ve numune hazırlama gerektirmeden geniş element yelpazesinde hızlı bileşim tayini. Masaüstü ve taşınabilir modeller mevcuttur.

Tahribatsız Analiz Mg'dan U'ya Element Tayini Numune Hazırlığı Gerekmez <2 Saniyede Sonuç

Kategoriye Git

Metal ve Malzeme Analizi

XRD — X-Işını Kırınım Ölçer

Kristal yapı ve faz analizi. Mineral tanımlama, kalıntı gerilme ölçümü, polimorflık tayini ve Rietveld refinement uygulamaları için güvenilir XRD sistemleri.

Faz Tanımlama Rietveld Analizi Kalıntı Gerilim Kalan Östenit Tahribatsız

Kategoriye Git

Partikül Analizi

Lazer Partikül Boyut Analizi

ISO 13320 uyumlu lazer kırınımı yöntemiyle 0,02–3.500 µm aralığında hızlı ve tekrarlanabilir partikül boyut dağılımı ölçümü. Islak ve kuru dispersiyon modları.

ISO 13320 Mie & Fraunhofer 0 02 - 3.500 µm Islak & Kuru Dispersiyon DLOI Geniş Açılı Optik

Kategoriye Git

Partikül Analizi

Lazer kırınımı ve PIC-1 çift kameralı dinamik görüntüleme teknolojilerini tek platformda birleştirir. 0,02–3.500 µm aralığında partikül boyutunu ve şekil parametrelerini eş zamanlı ölçer. Islak ve kuru dispersiyon modülleri ile tam esneklik sunar.

Lazer Kırınımı PIC-1 Dinamik Görüntüleme ISO 13320 0,02–3.500 µm 21 CFR Part 11

Ürünü İncele

Numune Hazırlama

EQM-402

EQM-402, yatay salınım hareketi (saniyede 32 döngüye kadar) ile kavanoz içindeki bilyeleri numuneye çarptırarak 1–4 dakikada 10 µm altına öğütme sağlar. İki kavanozu eşzamanlı işler; füzyon süresini kısaltmak ve XRF pelet hazırlığı için ideal kompakt masaüstü sistemdir.

Yatay Salınım Prensibi Eşzamanlı 2 Kavanoz Kuru ve Yaş Öğütme Dokunmatik Ekran 5 Program Hafızası

Ürünü İncele

Metal ve Malzeme Analizi

S5 Solaris Plus

500 mm odak uzaklığı ve 3600 çizgi/mm holografik grating ile sınıfının en yüksek optik çözünürlüğü. 130–900 nm spektral aralık, 16 CMOS, 58.368 aktif piksel. Dünyada 600'den fazla aktif kurulum.

500 mm Odak Uzaklığı 130–900 nm 16 CMOS Dedektör 58.368 Piksel 600+ Kurulum

Ürünü İncele

Partikül Analizi

Partikül Şekil Analizi

Dinamik veya statik görüntü analizi ile tek tek partiküllerin şekli, dairesellik, konvekslik ve aspect ratio değerlerinin ölçülmesi. Toz akışkanlığı ve kalite kontrolü için kritik.

Statik Görüntü Analizi 34+ Parametre 0 3–10.000 μm ISO 9276 Morfoloji Analizi

Kategoriye Git